DP-WSP-6型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測(cè)定的設(shè)備,測(cè)定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測(cè)試的理想具。

產(chǎn)品型號(hào)：DP-WSP-6

更新時(shí)間：2016-10-21

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀型號(hào)：DP-WSP-6

DP-WSP-6型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測(cè)定的設(shè)備,測(cè)定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測(cè)試的理想具。

1、主要標(biāo):

電源：220V交流

可測(cè)晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm

恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。

數(shù)字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV

電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點(diǎn)、性、過(guò)載、自動(dòng)顯示0.01-199.99歐姆。厘米

輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω

測(cè)量度：±0.1。

zui大電阻測(cè)量誤差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個(gè)字。

重?fù)綑z測(cè)誤差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

測(cè)量環(huán)境：溫度23±2℃，相對(duì)濕度≤65%

2、操作程序：

1、連好電源，打開后面板電源開關(guān)，電源示燈亮，表示待機(jī)畢。

2、校準(zhǔn)設(shè)備：厚度小于3.98mm取與要備測(cè)試硅材料厚度相同的硅材料標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀，測(cè)試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀

3、測(cè)試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準(zhǔn)，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可，

4校驗(yàn)：在測(cè)試過(guò)程中要求2小時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)次設(shè)備，

3、針組件;維護(hù)及注意事項(xiàng):

1、般情況下,除了信號(hào)傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護(hù)主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔作

2、維護(hù)后的安裝及維護(hù)過(guò)程中,注意安裝過(guò)程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列

其它

商品名稱：透明度測(cè)定儀/透明度檢測(cè)儀/透明度測(cè)試儀
商品型號(hào)：DP-TMD型

透明度測(cè)定儀/透明度檢測(cè)儀/透明度測(cè)試儀 型號(hào)：DP-TMD型

透明度測(cè)定儀/透明度檢測(cè)儀/透明度測(cè)試儀說(shuō)明：

DP-TMD型透明度測(cè)定儀是我公司為配合《危險(xiǎn)化學(xué)品涂料產(chǎn)品許可證實(shí)施細(xì)則》的實(shí)施研制出來(lái)的產(chǎn)品。該儀器根據(jù)GB 1721《清漆、清油及稀釋劑外觀和透明度測(cè)定法》制作的。該儀器不需要何標(biāo)準(zhǔn)試劑，使用非常簡(jiǎn)單、方便，而且量了化產(chǎn)品透明度的等級(jí)，有效地改善了目前此項(xiàng)標(biāo)的現(xiàn)狀。

透明度測(cè)定儀/透明度檢測(cè)儀/透明度測(cè)試儀主要參數(shù)：

訂購(gòu)信息	DP-TMD型
波長(zhǎng)	可從340-1000nm調(diào)節(jié)，便于分辨深顏色樣品
測(cè)試度	±1%
測(cè)試范圍	0.0%～125.0%
校正	自動(dòng)校正
調(diào)零	自動(dòng)調(diào)零